Ж1    С322     Сергев, Алексей Георгиевич.     Метрология. Стандартизация. Сертификация [Текст] : [Учеб. пособие для вузов по направлению "Метрология, стандартизация и сертификация" и спец. "Метрология и метрол. обеспечение"] / А. Г. Сергев, М. В. Латышев, В. В. Терегеря. - М. : Логос, 2001. - 525 с. : ил. - (Учеб. XXI в.) Библиогр.: с. 523-525 90.01 84.01 10.35.01 ББК Ж10я73 + Ж.ц(2)я73 + Х623.211.130.032.12я73 Рубрики: Метрология, стандартизация, Россия    Сертификация, правовое регулирование Дескрипторы: уч -- моногр Доп.точки доступа: Латышев, М.В; Терегеря, В.В Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж(СПД)    Ш341     Шведова, Вера Владимировна.     Патентная неуязвимость: как не нарушить чужие патентные права / В. В. Шведова, В. П. Банзакова. - М. : Патент, 2008. - 173, [2] с. - Библиогр.: с. 152-154. - ГРНТИ 84.01 ББК Ж.у(2)5 Рубрики: патентная экспертиза--Россия Доп.точки доступа: Банзакова, Вера Павловна Экземпляры всего: 1 02, спд (1) Свободны: 02, спд (1)

Ж(СПД)    Ш341     Шведова, Вера Владимировна.     Патентная чистота объекта: как облегчить ее проверку / В. В. Шведова. - М. : Патент, 2008. - 179 с. : ил. - Библиогр.: с. 86-88. - ГРНТИ 84.01 ББК Ж.у(2)5 Рубрики: патентная экспертиза--Россия Экземпляры всего: 1 02, спд (1) Свободны: 02, спд (1)

Ж1    М433         Международный словарь по метрологии : основные и общие понятия и соответствующие термины: [пер. с англ. и фр.] / Междунар. бюро мер и весов, Объед. ком. по руководствам в обл. метрологии. - [Изд. 2-е, испр.]. - Санкт-Петербург : Профессионал, 2010. - 80 с. ; 30 см. - Указ. рус., англ. и фр. терминов: с. 72-80. - Библиогр.: с. 68-69. - 500 экз.. - ГРНТИ 84.01 УДК 006(100)(038)^V3 ББК Ж10я212 Рубрики: метрология--терминология Кл.слова (ненормированные): Метрология - Словари Держатели документа: ГПНТБ России Доп.точки доступа: Международное бюро мер и весов. Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж    Ш341 Ж / Ш341-02 СПД     Шведова, Вера Владимировна.     Исследование патентной чистоты объекта : практическое пособие / В. В. Шведова. - Москва : Патент, 2011. - 215, [1] с. ; 22 см. - Библиогр.: с. 213-214. - 270 экз.. - ГРНТИ 84.01 УДК 347.771(075.8)^V3 ББК Ж.у(2)5я73 Рубрики: патентная экспертиза--Россия Кл.слова (ненормированные): Патентная экспертиза Экземпляры всего: 1 02 СПД (1) Свободны: 02 СПД (1)

Ж1    Д629 Ж1 / Д629-02     Дойников, Александр Сергеевич.     Справочник по метрологии / А. С. Дойников, Л. Н. Брянский, Б. Н. Крупин. - Москва : Стандартинформ, 2010 (Калуга). - 137, [2] с. ; 24 см. - Указ. терминов: с. 131-138. - Библиогр.: с. 129-130. - 1000 экз.. - ГРНТИ 84.01 УДК 006(035)^V3 ББК Ж10я22 Рубрики: метрология Кл.слова (ненормированные): Метрология - Справочники Доп.точки доступа: Брянский, Лев Николаевич; Крупин, Борис Николаевич Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    М546 Ж1 / М546-02         Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : [учебное пособие / Анашина О. Д. и др.] ; под ред. В. Н. Крутикова ; ВНИИОФИ. - Москва : Логос, 2011. - 590 с. : ил. ; 23 см. - Библиогр. в конце разд. - 1000 экз. Авт. указаны на обороте тит. л. ГРНТИ 84.01 81.13 УДК 006(075.8)^V3 ББК Ж10я77 + Ж6ц.я77 Рубрики: Метрология    Нанотехнология--Стандартизация Кл.слова (ненормированные): Контрольно-измерительные инструменты и приборы - Метрологическое обеспечение Доп.точки доступа: Анашина, О. Д.; Андрюшечкин, С. Е.; Аневский, С. И.; Крутиков, В. Н. \ред.\; Всероссийский науч.-исследовательский ин-т оптико-физ. измерений Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)