Х(СПД) М42 Медведев, Валерий Николаевич. Принципы единства изобретения в международном патентном законодательстве : (сравнит. анализ норм и правил РСТ, ЕПК и ЕАПК) / В. Н. Медведев. - М. : Патент, 2006. - 99 с. : ил. - Рубрики: Патентное право--международное Экземпляры всего: 1 02, спд (1) Свободны: 02, спд (1) |