В37 А593 В37 / А593-02 Альфорд, Т. Л. Фундаментальные основы анализа нанопленок : пер. с англ. / Т. Л. Альфорд, Л.К. Фельдман, Д. В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцов, М. А. Долганов; науч. ред. А. Н. Образцов. - Москва : Научный Мир, 2012. - 392 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий. Лучшие зарубежные учебники). - Библиогр. в конце глав. -
Рубрики: экспериментальные методы--изучения структуры твердых тел тонкие пленки--твердых тел Доп.точки доступа: Альфорд, Терри Л.; Фельдман, Леонард К.; Майер, Джеймс В.; Чертович, А. В. \ред.\; Образцов, А.Н. \пер.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |