Ж1 Т217 Тартаковский, Дмитрий Федорович. Метрология, стандартизация и технические средства измерений [Текст] : учеб. для вузов / Д. Ф. Тартаковский, А. С. Ястребов. - М. : Высш. шк., 2001. - 205 с. : ил Библиогр.: с. 205 Рубрики: Метрология Измерения электрических и неэлектрических величин Дескрипторы: моногр -- уч Доп.точки доступа: Ястребов, Анатолий Степанович Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 Р763 Российская метрологическая энциклопедия [Текст] / [Гл. ред. Тарбеев Ю.В.]. - СПб. : Лики России, 2001. - 839 с. : ил Библиогр. в конце ст Рубрики: Метрология Дескрипторы: энц Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 Р224 Раннев, Георгий Георгиевич. Методы и средства измерений : учебник [для вузов по направлению подгот. 653700 "Приборостроение", специальности 190900 "Информ.-измер. техника и технологии" / Г. Г. Раннев, А. П. Тарасенко. - 2-е изд., стер. - М. : Academia, 2004. - 330, [1] с. : ил. ; 22 см. - (Высшее профессиональное образование. Приборостроение). - Библиогр.: с. 326-328. - 5100 экз.. -
Рубрики: Метрология Кл.слова (ненормированные): Метрология Доп.точки доступа: Тарасенко, Анатолий Пантелеевич Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 М546 Метрология, стандартизация и сертификация : учебник для студ. высш. учеб. заведений / [А. И. Аристов и др.]. - М. : Академия, 2006. - 379 с. - (Высшее профессиональное образование. Машиностроение). - Библиогр.: с. 373-375. - 3000 экз. Авт. указаны на обороте тит. л. Рубрики: Метрология Сертификация--экономика--Россия Доп.точки доступа: Аристов, Александр Иванович; Карпов, Леонид Иванович; Приходько, Вячеслав Михайлович; Раковщик, Татьяна Михайловна Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 А862 Артемьев, Борис Григорьевич. Справочное пособие для специалистов метрологических служб / Б. Г. Артемьев, Ю. Е. Лукашов. - [2-е изд., перераб. и доп.]. - Москва : Стандартинформ, 2009. - 688 с. : ил. ; 25 см. - Библиогр.: с. 683-685. - 1000 экз.. -
Рубрики: метрология Кл.слова (ненормированные): Метрология - Справочники Держатели документа: ГПНТБ России Доп.точки доступа: Лукашов, Юрий Евгеньевич Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж Н254 Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях : [терминол. словарь] / под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - М. : Техносфера, 2009. - 135 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 134-135. -
Рубрики: нанотехнология метрология стандартизация Доп.точки доступа: Ковальчук, М.В. \ред.\; Тодуа, П.А. \ред.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 Н73 Новиков, Николай Юрьевич. Теория шкал : принципы построения эталонных процедур измерения, кодирования и управления / Н. Ю. Новиков. - Москва : Физматлит, 2009. - 498, [3] с. : ил. ; 22 см. - Предм. указ.: с. 483-490. - Библиогр.: с. 491-498. - 300 экз.. -
Рубрики: метрология Кл.слова (ненормированные): Шкалы стандартные -- Физические измерения - Точность Держатели документа: ГПНТБ России Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 Д629 Ж1 / Д629-02 Дойников, Александр Сергеевич. Справочник по метрологии / А. С. Дойников, Л. Н. Брянский, Б. Н. Крупин. - Москва : Стандартинформ, 2010 (Калуга). - 137, [2] с. ; 24 см. - Указ. терминов: с. 131-138. - Библиогр.: с. 129-130. - 1000 экз.. -
Рубрики: метрология Кл.слова (ненормированные): Метрология - Справочники Доп.точки доступа: Брянский, Лев Николаевич; Крупин, Борис Николаевич Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 И889 Ж1 / И889-02 Исследования в области обеспечения единства измерений и определения параметров нанообъектов / [ред.-изд. совет: П. А. Красовский (пред.) и др.]. - пос. Менделеево, Моск. обл. : ВНИИФТРИ, 2009. - 53 с. : нот.ил. ; 26 см. - (Труды / Всероссийский НИИ физ.-технических и радиотехнических измерений ; вып. 55 (147)). - Библиогр. в конце ст. На тит. с.: к 55-летию ВНИИФТРИ
Рубрики: метрология нанотехнология Кл.слова (ненормированные): Физические измерения - Метрологическое обеспечение -- Наноструктуры (физ.) Доп.точки доступа: Красовский, Петр Александрович \ред.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 Н254 Ж1 / Н254-02 Наночастицы в природных и технологических средах. Методы и средства измерений / [редкол.: П. А. Красовский (пред.) и др.]. - пос. Менделеево, Моск. обл. : ВНИИФТРИ, 2009. - 107 с. : ил. ; 27 см. - (Труды / Всероссийский НИИ физ.-технических и радиотехнических измерений ; вып. 56 (148)). - Библиогр. в конце ст. На тит. с.: к 55-летию ВНИИФТРИ
Рубрики: метрология нанотехнология Кл.слова (ненормированные): Физические измерения - Метрологическое обеспечение -- Наноструктуры (физ.) Доп.точки доступа: Красовский, Петр Александрович \ред.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж1 М546 Ж1 / М546-02 Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : [учебное пособие / Анашина О. Д. и др.] ; под ред. В. Н. Крутикова ; ВНИИОФИ. - Москва : Логос, 2011. - 590 с. : ил. ; 23 см. - Библиогр. в конце разд. - 1000 экз. Авт. указаны на обороте тит. л.
Рубрики: Метрология Нанотехнология--Стандартизация Кл.слова (ненормированные): Контрольно-измерительные инструменты и приборы - Метрологическое обеспечение Доп.точки доступа: Анашина, О. Д.; Андрюшечкин, С. Е.; Аневский, С. И.; Крутиков, В. Н. \ред.\; Всероссийский науч.-исследовательский ин-т оптико-физ. измерений Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
И-З 85 F33 И-З 85 / F33-02 Fedorinin, Viktor Nikolaevich. Optoelectronics in measurement of physical magnitudes : [transl. from Russ.] / V. N. Fedorinin, A. G. Paulish, A. S. Levina. - New York : Nova Science, 2011. - VIII,66 p. : ill. - (Physics research and technology). - Bibliogr.: p. 59-61. - Ind.: p. 63-66 Перевод заглавия: Оптоэлектроника в измерении физических величин
Рубрики: Оптоэлектронные приборы--Проектирование Метрология Перейти: Оглавление Доп.точки доступа: Paulish, A. G.; Levina, A. S. Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
В6 М546 В6 / М546-02 Метрология времени и пространства : VIII международный симпозиум, 14-16 сентября 2016, г. Санкт-Петербург : материалы симпозиума. - Менделеево : ВНИИФТРИ, 2017. - 206 с. : ил. ; 24 см. - Часть текста англ. - Библиогр. в конце докл. - 300 экз.. -
Рубрики: Служба времени Метрология Кл.слова (ненормированные): Метрология Перейти: Оглавление Доп.точки доступа: Всероссийский научно-технический институт физико-технических и радиотехнических измерений (пос. Менделеево, Московская область) Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |