В33 С381 Синдо Дайзуке Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Синдо Дайзуке; Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 249 с. : ил. ; 22 см. - (Мир материалов и технологий ; VI-08). - Библиогр. в конце гл. - 3000 экз.. - Рубрики: электронная микроскопия Доп.точки доступа: Оикава Тецуо; Иванов, С.А. \пер.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
В33 Э172 Эгертон, Р. Ф. Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию / Р. Ф. Эгертон ; пер. с англ. С. А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2010 (Чебоксары). - 300 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники ; II-18). - Библиогр.: с. 221-222, 297-300. - Предм. указ.: с. 223-228. - 3000 экз.. -
Рубрики: электронная микроскопия Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия Держатели документа: ГПНТБ России Доп.точки доступа: Иванов, С.А. \пер.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж С741 Ж / С741-02 Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / [МГУ им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; А. Бухелье и др.] ; под ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван ; науч. ред. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 711 с. : ил. ; 27 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники). - Библиогр. в конце разд. - Пер. изд. : Handbook of microscopy for nanotechnology. - 1000 экз. На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
Рубрики: нанотехнология--спектральные методы электронная микроскопия микроскопия оптическая Кл.слова (ненормированные): Наноструктуры (физ.) - Микроскопические исследования - Справочники Доп.точки доступа: Нан Яо \ред.\; Яминский, Игорь Владимирович \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\; Бухелье, Александр \конс.\; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч.-образовательный центр по нанотехнологиям Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
В37 И982 В37 / И982-02 Ищенко, Анатолий Александрович. Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : Физматлит, 2013. - 614 с. : ил. ; 25 см. - Предм. указ.: с. 611-614. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз.. -
Рубрики: Дифракция--Электронов в кристаллах Дифракция--Электронов в газах Электронная микроскопия Кл.слова (ненормированные): Электроны - Дифракция -- Электронография Доп.точки доступа: Гиричев, Георгий Васильевич; Тарасов, Юрий Игоревич Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
И-В33 S78 И-В33 / S78-02 Spence, John C.H.. High-resolution electron microscopy / J. C.H. Spence. - 4th ed. - Oxford : Oxford univ. press, 2013. - Bibliogr. at the end of the chapters. - Ind.: p. 403-406 Перевод заглавия: Электронная микроскопия высокого разрешения
Рубрики: Электронная микроскопия Перейти: Оглавление Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
И-В33 D29 И-В33 / D29-02 De Graef, Marc. Introduction to conventional transmission electron microscopy / M. De Graef. - Cambridge [et al.] : Cambridge university press, 2003. - XXI,718 p. : ill., tab. - Bibliogr.: p. 685-703. - Ind.: p. 705-718 Перевод заглавия: Введение в обычную трансмиссионную электронную микроскопию
Рубрики: Электронная микроскопия Перейти: Оглавление Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
В33 П692 В33 / П692-02 ВМИ Практическая растровая электронная микроскопия / [Дж. Гоулдстейн, X. Яковиц, Д. Ньюбэри и др.]; под ред. Дж. Гоулдстейна, Х. Яковица, пер. с англ. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1978. - 656 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 615-642. - Библиогр. в конце глав. - Имен. и предм. указ.: с. 643-650. - Пер. изд. : Practical scanning electron microscopy. - New York, 1975. - 4800 экз.. -
Рубрики: Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. \ред.\; Яковиц, Х. \ред.\; Петров, В.И. \ред., пер.\ Экземпляры всего: 2 02 (1), 02 ВМИ (1) Свободны: 02 (1), 02 ВМИ (1) |