Ж(СПД)
   К451


    Китайский, В. Е.
    Основы патентной экспертизы : учеб. пособие / В. Е. Китайский. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Патент, 2007. - 296 с. : ил. - Библиогр.: с. 291-294. -
ББК Ж.у(0)5я73
Рубрики: патентная экспертиза

Экземпляры всего: 1
02, спд (1)
Свободны: 02, спд (1)

   Ж(СПД)
   С444


    Скорняков, Эдуард Петрович.
    Прогнозы и прогнозные оценки на основе патентных исследований / Э. П. Скорняков, М. Э. Горбунова. - 2-е изд., пересмотр. - М. : Патент, 2007. - 84 с. : ил. - Библиогр.: с. 82-83. -
ББК Ж.у(0)5 + У50-823.2
Рубрики: патентная экспертиза
   качество--продукции--экономика мировая



Доп.точки доступа:
Горбунова, Марина Эдуардовна
Экземпляры всего: 1
02, спд (1)
Свободны: 02, спд (1)

   Х(СПД)
   Д408


    Джермакян, Валерий Юрьевич.
    Открытое использование, преждепользование и новизна изобретения [Текст] : теория и практ. предотвращения недобросовест. конкуренции / В.Ю. Джермакян ; Рос. агентство по пат. и товар. знакам, Информ.-изд. центр. - М. : ИНИЦ Роспатента, 2002. - 144 с. : ил. - 1 экз.
Библиогр.: с. 136-141
ББК Х623.41 + Х833.4
Рубрики: Изобретения--патентное право--Россия--зарубежные страны
   Патентная экспертиза

Дескрипторы: моногр

Экземпляры всего: 1
02, спд (1)
Свободны: 02, спд (1)

   Ж(СПД)
   К451


    Китайский, Владимир Евгеньевич.
    Основы патентной экспертизы : учеб. пособие / В. Е. Китайский ; Информ.-изд. центр Роспатента. - М. : Роспатент, 2005. - 305 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 301-303. - 280 экз.. -
ББК Ж.у(2)5я73
Рубрики: Патентная экспертиза
   Экспертиза--изобретений

Кл.слова (ненормированные):
Патентная экспертиза

Экземпляры всего: 1
02, спд (1)
Свободны: 02, спд (1)

   Ж(СПД)
   П201


   
    Патентная экспертиза за рубежом : учеб. пособие / И. В. Полонская [и др.]. ; под ред. И. В. Полонской. - М. : Патент, 2007. - 279 с. - Библиогр.: с. 274-277. -
ББК Ж.у(0)5я77 + Х833.4я77
Рубрики: патентная экспертиза
   патентное право--зарубежные страны

Кл.слова (ненормированные):
Патентная экспертиза


Доп.точки доступа:
Полонская, Ирина Владимировна; Серова, Мария Анатольевна; Фетина, Валентина Николаевна; Кабалкина, Белла Марковна
Экземпляры всего: 1
02, спд (1)
Свободны: 02, спд (1)

   Ж(СПД)
   С444


    Скорняков, Эдуард Петрович.
    Как оценить коммерческую значимость изобретения [Текст] / Э.П. Скорняков, М.Э. Горбунова ; Рос. агентство по пат. и товар. знакам. Информ.-изд. центр. - 3-е изд., испр. и доп. - М. : ИНИЦ Роспатента, 2000. - 83 с. : ил
Загл. обл.: Как оценить коммерческую стоимость изобретения. - Библиогр.: с. 81
ББК Ж.у(0)5 + Х833.4
Рубрики: Изобретения--оценка
   Патентная экспертиза

   Патенты--отбор--лицензии

   Патентование за рубежом

Дескрипторы: моногр


Доп.точки доступа:
Горбунова, Марина Эдуардовна
Экземпляры всего: 1
02, спд (1)
Свободны: 02, спд (1)

   Ж(СПД)
   С444


    Скорняков, Эдуард Петрович.
    Как оценить коммерческую значимость изобретения [Текст] / Э.П. Скорняков, М.Э. Горбунова ; Рос. агентство по пат. и товар. знакам. - (2-е изд., доп. и испр.). - М. : ИНИЦ, 1999. - 71 с. : табл
Библиогр.: с. 69
ББК Ж.у(0)5 + Х833.4
Рубрики: Изобретения--оценка
   Патентная экспертиза

   Патенты--отбор--лицензии

   Патентоведение за рубежом

Дескрипторы: моногр


Доп.точки доступа:
Горбунова, Марина Эдуардовна
Экземпляры всего: 1
02, спд (1)
Свободны: 02, спд (1)

   Ж(СПД)
   С444


    Скорняков, Эдуард Петрович.
    Как оценить коммерческую значимость изобретения [Текст] : монография / Э.П. Скорняков ; Всерос. НИИ пат. информ. - М. : ВНИИПИ, 1996. - 58 с. : ил
Библиогр.: с. 56
ББК Ж.у(0)5 + Х833.4
Рубрики: Патентная экспертиза
   Патенты--отбор--лицензии

   Патентоведение--за рубежом

Дескрипторы: моногр

Экземпляры всего: 1
02, спд (1)
Свободны: 02, спд (1)

   Х
   П524
Х / П524-02 СПД


    Полонская, Ирина Владимировна.
    Зарубежное патентование объектов промышленной собственности / И. В. Полонская. - Москва : Патент, 2011. - 86, [1] с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 75-76. - 200 экз.. -
ГРНТИ
ББК Х933.41я77 + Ж.у(0)5я77
Рубрики: промышленная собственность--патентование--международно-правовое регулирование
   патентная экспертиза


Экземпляры всего: 1
02 СПД (1)
Свободны: 02 СПД (1)

   Х623
   С506
Х623 / С506-02 СПД


    Смирнова, Ольга Евгеньевна.
    Основы патентоведения и охрана интеллектуальной собственности : учебное пособие / О. Е. Смирнова ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Новосиб. гос. архитектур.-строит. ун-т (Сибстрин). - Новосибирск : НГАСУ, 2016. - 88 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 80-81. - 100 экз.. -
ГРНТИ
УДК
ББК Х623.41я73 + Х621.152.1я73 + Ж.у(2)5я73
Рубрики: Патентное право--Россия
   Интеллектуальная собственность--Правовое регулирование--Россия

   Патентная экспертиза

Кл.слова (ненормированные):
теллектуальная собственность - Правовая охрана -- тентное право Российской Федерации

Экземпляры всего: 1
02 СПД (1)
Свободны: 02 СПД (1)