Ж Б874 Брандон, Д. Мир материалов и технологий : микроструктура материалов. Методы исслед. и контроля:[Учеб. пособие по направлению подгот. "Прикладные математика и физика" ] / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. : ил. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 376-377. - Библиогр. в конце гл. - 2000 экз.. -
Рубрики: Материалы--физические методы исследования Кл.слова (ненормированные): Материалы - Структура - Микроскопические исследования Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С.Л. \пер.\; Егорова, О.В. \пер.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |
Ж Ф945 Ж / Ф945-02 Фульц, Брент. Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко под ред. А. В. Мохова. - Москва : Техносфера, 2011. - 903 с. : ил. ; 25 см. - (Мир физики и техники ; II-23). - Библиогр.: с. 805-820. - Предм. указ.: с. 883-903. - 3000 экз.. -
Рубрики: материалы--физические методы исследования Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия -- Дифрактометрия Доп.точки доступа: Хау, Д. М.; Мохов, А. В. \ред.\; Даниленко, В. И. \пер.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |