Д2    М545         Методы математического моделирования окружающей среды [Текст] / Рос. акад. наук. Ин-т мат. моделирования. - М. : Наука, 2000. - 254 с. : ил Библиогр.: с. 247-252 37.01.77 ББК Д2в641 Рубрики: атмосфера, загрязнение    метрология, геомеханика, геофизика, моделирование математическое Дескрипторы: моногр Доп.точки доступа: Колдоба, А.В.; Повещенко, Ю.А.; Самарская, Е.А.; Тишкин, В.Ф. Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    Л128     Лабутин, Сергей Александрович.     Статистические модели и методы в измерительных задачах [Текст] / С.А. Лабутин; Нижегор. гос. техн. ун-т. - Н. Новгород : [б. и.], 2000. - 115 с. : ил Библиогр.: с. 110-113 90.01 ББК Ж10в647 Рубрики: метрология, статистические методы Дескрипторы: моногр Доп.точки доступа: Пугин, Михаил Викторович Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    Т217     Тартаковский, Дмитрий Федорович.     Метрология, стандартизация и технические средства измерений [Текст] : учеб. для вузов / Д. Ф. Тартаковский, А. С. Ястребов. - М. : Высш. шк., 2001. - 205 с. : ил Библиогр.: с. 205 90.01.33 ББК Ж10я73 + З 221я73 Рубрики: Метрология    Измерения электрических и неэлектрических величин Дескрипторы: моногр -- уч Доп.точки доступа: Ястребов, Анатолий Степанович Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

К3    С955/1     Сырье для черной металлургии [Текст] : справочник: В 2 т. - М : [б. и.].Т. 1: Производство окускованного сырья для черной металлургии (сырье, технологии, оборудование, метрология). - 2001. - 895 с.: ил. - Библиогр.: с. 895. - ISBN 5-94275-009-2. Дескрипторы: многот -- спр Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    С322     Сергев, Алексей Георгиевич.     Метрология. Стандартизация. Сертификация [Текст] : [Учеб. пособие для вузов по направлению "Метрология, стандартизация и сертификация" и спец. "Метрология и метрол. обеспечение"] / А. Г. Сергев, М. В. Латышев, В. В. Терегеря. - М. : Логос, 2001. - 525 с. : ил. - (Учеб. XXI в.) Библиогр.: с. 523-525 90.01 84.01 10.35.01 ББК Ж10я73 + Ж.ц(2)я73 + Х623.211.130.032.12я73 Рубрики: Метрология, стандартизация, Россия    Сертификация, правовое регулирование Дескрипторы: уч -- моногр Доп.точки доступа: Латышев, М.В; Терегеря, В.В Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

З84    М546         Метрология и электрорадиоизмерения в телекоммуникационных системах [Текст] : учеб. для вузов по спец. "Информ. безопасность телекоммуникац. систем" / ]Под ред. Нефедова В.И. - М. : Высш. шк., 2001. - 383 с. : ил Авт. указаны на об. тит. л. - Библиогр.: с. 355. - Предм. указ.: с. 371-380 90.27.35 ББК З 842я73 Рубрики: Электрорадиоизмерения Дескрипторы: моногр -- уч Доп.точки доступа: Нефедов, В.И; Хахин, В.И.; Федорова, Е.В.; Белик, Ю.Д. Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    Р763         Российская метрологическая энциклопедия [Текст] / [Гл. ред. Тарбеев Ю.В.]. - СПб. : Лики России, 2001. - 839 с. : ил Библиогр. в конце ст 90.03 ББК Ж10я20 Рубрики: Метрология Дескрипторы: энц Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    Н192     Назаров, Николай Григорьевич.     Метрология. Основные понятия и математические модели [Текст] : учеб. пособие для вузов / Н. Г. Назаров. - М. : Высш. шк., 2002. - 348 с. : ил Библиогр.: с. 344 90.01 ББК Ж10в641я73 Рубрики: Метрология, математическое моделирование Дескрипторы: моногр -- уч Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

У03    Г763     Грамм, Михаил Израилевич.     История цивилизации в зеркале мер, единиц и денег : занимат. энцикл. с интернет-адресами / Михаил Грамм. - Челябинск : Аркаим, печ. 2003. - 339 с., [16] л. ил. : ил. ; 25 см. - Предм. указ.: с. 326-332. - Библиогр.: с. 334. - 3000 экз.. - ГРНТИ 03.09 90.01 06.43.01 06.71.25 УДК 94(100)^V3 51(091)(031)^V3 ББК У03(0)026.26я20 + Ж101я20 Рубрики: деньги--экономическая история--всеобщая    меры--системы единиц измерения Кл.слова (ненормированные): Метрология - История - Энциклопедии -- Деньги и денежное обращение - История - Энциклопедии Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    Р224     Раннев, Георгий Георгиевич.     Методы и средства измерений : учебник [для вузов по направлению подгот. 653700 "Приборостроение", специальности 190900 "Информ.-измер. техника и технологии" / Г. Г. Раннев, А. П. Тарасенко. - 2-е изд., стер. - М. : Academia, 2004. - 330, [1] с. : ил. ; 22 см. - (Высшее профессиональное образование. Приборостроение). - Библиогр.: с. 326-328. - 5100 экз.. - ГРНТИ 50 90.01.33 УДК 681.518.3(075.8)^V3 ББК Ж10я73 Рубрики: Метрология Кл.слова (ненормированные): Метрология Доп.точки доступа: Тарасенко, Анатолий Пантелеевич Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    М546         Метрология, стандартизация и сертификация : учебник для студ. высш. учеб. заведений / [А. И. Аристов и др.]. - М. : Академия, 2006. - 379 с. - (Высшее профессиональное образование. Машиностроение). - Библиогр.: с. 373-375. - 3000 экз. Авт. указаны на обороте тит. л.ББК Ж10я73 + У9(2Р)0-44я73 Рубрики: Метрология    Сертификация--экономика--Россия Доп.точки доступа: Аристов, Александр Иванович; Карпов, Леонид Иванович; Приходько, Вячеслав Михайлович; Раковщик, Татьяна Михайловна Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    А862     Артемьев, Борис Григорьевич.     Справочное пособие для специалистов метрологических служб / Б. Г. Артемьев, Ю. Е. Лукашов. - [2-е изд., перераб. и доп.]. - Москва : Стандартинформ, 2009. - 688 с. : ил. ; 25 см. - Библиогр.: с. 683-685. - 1000 экз.. - ГРНТИ 90.01 УДК 006(035)^V3 ББК Ж10я22 Рубрики: метрология Кл.слова (ненормированные): Метрология - Справочники Держатели документа: ГПНТБ России Доп.точки доступа: Лукашов, Юрий Евгеньевич Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж    Н254         Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях : [терминол. словарь] / под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - М. : Техносфера, 2009. - 135 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 134-135. - ГРНТИ 81.01 ББК Ж6я212 + Ж10я212 + Ж.ц.я212 Рубрики: нанотехнология    метрология    стандартизация Доп.точки доступа: Ковальчук, М.В. \ред.\; Тодуа, П.А. \ред.\ Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    Н73     Новиков, Николай Юрьевич.     Теория шкал : принципы построения эталонных процедур измерения, кодирования и управления / Н. Ю. Новиков. - Москва : Физматлит, 2009. - 498, [3] с. : ил. ; 22 см. - Предм. указ.: с. 483-490. - Библиогр.: с. 491-498. - 300 экз.. - ГРНТИ 90.01 УДК 519.72^V3 ББК Ж10 Рубрики: метрология Кл.слова (ненормированные): Шкалы стандартные -- Физические измерения - Точность Держатели документа: ГПНТБ России Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж    О.515     Окрепилов, Владимир Валентинович.     Стандартизация и метрология в нанотехнологиях / В. В. Окрепилов. - СПб. : Наука, 2008. - 263 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 198-206. - 200 экз. На тит. с.: Акад. книгоиздательство России-280 лет ГРНТИ 81.13 УДК 006^V3 ББК Ж6 Рубрики: нанотехнология Кл.слова (ненормированные): Стандартизация -- Метрология Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    М433         Международный словарь по метрологии : основные и общие понятия и соответствующие термины: [пер. с англ. и фр.] / Междунар. бюро мер и весов, Объед. ком. по руководствам в обл. метрологии. - [Изд. 2-е, испр.]. - Санкт-Петербург : Профессионал, 2010. - 80 с. ; 30 см. - Указ. рус., англ. и фр. терминов: с. 72-80. - Библиогр.: с. 68-69. - 500 экз.. - ГРНТИ 84.01 УДК 006(100)(038)^V3 ББК Ж10я212 Рубрики: метрология--терминология Кл.слова (ненормированные): Метрология - Словари Держатели документа: ГПНТБ России Доп.точки доступа: Международное бюро мер и весов. Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    К642 Ж1 / К642-02 СПД     Кондратов, В. Т.     Основы технического языка [Текст] / В. Т. Кондратов. - [Б. м. : б. и.]. - 25 с. - (Законодательная и прикладная метрология ; n 6/2007). - ББК Ж10 Экземпляры всего: 1 02 СПД (1) Свободны: 02 СПД (1)

З 84    А947 З 84 / А947-02     Афонский, А. А.     Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - Москва : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. ; 21 см. - Библиогр.: с. 679-687. - 300 экз.. - ГРНТИ 47.01 УДК 621.38-022.53^V3 ББК З 841.1 + З 856-06 + З 842 Рубрики: микроэлектроника    нанотехнология в электронике    метрология в радиоэлектронике Кл.слова (ненормированные): Контрольно-измерительные инструменты и приборы электронные Доп.точки доступа: Дьяконов, Владимир Павлович Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    С322 Ж1 / С322-02     Сергеев, Алексей Георгиевич.     Нанометрология / А. Г. Сергеев. - Москва : Логос, 2011. - 413 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 409-413. - 1000 экз.. - ГРНТИ 90.01 УДК 62-022.53:006^V3 ББК Ж10в734 Рубрики: метрология--микроскопические методы Кл.слова (ненормированные): Нанотехнология - Метрологическое обеспечение Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)

Ж1    Д629 Ж1 / Д629-02     Дойников, Александр Сергеевич.     Справочник по метрологии / А. С. Дойников, Л. Н. Брянский, Б. Н. Крупин. - Москва : Стандартинформ, 2010 (Калуга). - 137, [2] с. ; 24 см. - Указ. терминов: с. 131-138. - Библиогр.: с. 129-130. - 1000 экз.. - ГРНТИ 84.01 УДК 006(035)^V3 ББК Ж10я22 Рубрики: метрология Кл.слова (ненормированные): Метрология - Справочники Доп.точки доступа: Брянский, Лев Николаевич; Крупин, Борис Николаевич Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1)