Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ж(СПД)/К451 Автор(ы) : Китайский В.Е. Заглавие : Основы патентной экспертизы : учеб. пособие . -2-е изд., перераб. и доп. Выходные данные : М.: Патент, 2007 Колич.характеристики :296 с.: ил. Примечания : Библиогр.: с. 291-294 Цена : 1050 р. ГРНТИ : 85.33 ББК : Ж.у(0)5я73 Предметные рубрики: патентная экспертиза Экземпляры :02, спд(1) Свободны : 02, спд(1)