И-З 84 A26 И-З 84 / A26-02 Agrawal, Vishwani D. Test generation for VLSI chips : tutorial / V.D. Agrawal, S.C. Seth. - Washington : IEEE computer soc. press, 1988. - X, 401 p. : Ill. - Bibliogr. at the end of the chapters , bibliogr.: p. 333-394. - Subject ind.: p. 395398 Перевод заглавия: Формирование испытаний для кристаллов СБИС. Перепечатки статей из спецжурналов и докладов из трудов конференций Содержание: Рубрики: Интегральные схемы--Испытания Кл.слова (ненормированные): тестируемость БИС -- логические схемы Дескрипторы: сб Доп.точки доступа: Seth, Sharad C Экземпляры всего: 1 02 (1) Свободны: 02 (1) |