Ж(СПД) К451 Китайский, В. Е. Основы патентной экспертизы : учеб. пособие / В. Е. Китайский. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Патент, 2007. - 296 с. : ил. - Библиогр.: с. 291-294. - Рубрики: патентная экспертиза Экземпляры всего: 1 02, спд (1) Свободны: 02, спд (1) |